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手動(dòng)探針臺(tái)的使用步驟手動(dòng)探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體芯片電參數(shù)測(cè)試的精密設(shè)備,能夠吸附多種規(guī)格的芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座。配合相應(yīng)的測(cè)量?jī)x器,它能夠完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)的檢測(cè),在電子測(cè)試和測(cè)量過(guò)程中扮演著重要的角色。那么大家對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)的使用步驟了解多少呢?下面鍵德測(cè)試測(cè)量小編就來(lái)為大家介紹下。 手動(dòng)探針臺(tái)的使用步驟: 調(diào)整高度:根據(jù)需要,使用手動(dòng)探針臺(tái)上的調(diào)節(jié)裝置將測(cè)試點(diǎn)的高度調(diào)整到合適位置。這樣可以確保探頭與測(cè)試點(diǎn)之間的接觸良好。 定位元器件:將待測(cè)試的電路板或元器件放置在手動(dòng)探針臺(tái)上,并使用定位器或固定裝置將其穩(wěn)定固定。確保測(cè)試點(diǎn)位于探針的范圍內(nèi)。 準(zhǔn)備探針:選擇適當(dāng)?shù)奶结?例如尖峰探針、彈簧探針等),并確保探針干凈無(wú)污染。 輕觸測(cè)試點(diǎn):通過(guò)輕輕觸碰探針與測(cè)試點(diǎn),確保探針與測(cè)試點(diǎn)之間的良好接觸?梢允褂蔑@微鏡或放大鏡來(lái)輔助精確定位。 進(jìn)行測(cè)量:將探針與測(cè)試點(diǎn)保持穩(wěn)定接觸,并進(jìn)行所需的測(cè)試和測(cè)量操作。根據(jù)需要移動(dòng)手動(dòng)探針臺(tái)以使探針接觸到不同的測(cè)試點(diǎn)。 以上關(guān)于手動(dòng)探針臺(tái)的使用步驟就為大家分享到這里,在使用手動(dòng)探針臺(tái)時(shí),需要注意謹(jǐn)慎操作,避免過(guò)度施壓或不必要的震動(dòng),以保護(hù)電路板和元器件的完整性。 |