|
探針臺的使用方法-如何正確使用探針臺的使用方法-如何正確使用 正確地使用探針臺,可有效地提高操效率,減少誤操作造成樣品和探針耗材的損傷、損耗。本文以KeyFactor的IPS探針臺的使用方法為例,為您講解如何使用手動探針臺。主要包含了兩部分的教學內容:如何使用顯微鏡觀察和如何使用定位器將探針扎到待測點上。 1、如何正確地使用顯微鏡、用顯微鏡觀察待測樣品。 (1)打開顯微鏡光源,調節(jié)光源亮度。將待測樣品(或待觀察位置)移至顯微鏡光斑下。 (2)確認顯微鏡調焦架處于行程中間位置,即調焦架的導軌對齊(如下圖)。若有偏差,可以通過旋轉調焦架粗調旋鈕對齊。 (3)旋轉顯微鏡轉塔,將物鏡切換至最小放大倍數(shù)。若有必要,可使用氣動開關將顯微鏡抬升后再切換。 [注意] 須雙手托住轉塔側邊圈旋轉(下圖箭頭所示),嚴禁直接握住物鏡旋轉。 (4)旋轉調焦架粗調旋鈕,調節(jié)顯微鏡物鏡與樣品間的距離(向上或向下)。顯微鏡與樣品的對焦過程中,通過目鏡(配置了攝像頭可通過顯示器)可觀察到樣品成像由模糊逐漸轉為清晰。 [注意] 操作粗調旋鈕時應注意觀察樣品與物鏡之間的距離,防止樣品與待測樣品相撞損壞物鏡。所有物鏡為95mmMPlanAPO長工作距離物鏡, 若物鏡與樣品間的距離小于10mm,應停止并往反方向調節(jié)距離。 (5) 轉動顯微鏡轉塔,切換至換至目標放大倍數(shù),調節(jié)調焦架高度,至樣品成像清晰即完成操作。 (6)高倍下操作,可使用調焦架細調旋鈕輔助調節(jié)顯微鏡高度,將樣品與顯微鏡對焦。 [注意] 若調焦架處在極限行程位置,嚴禁使用細調旋鈕,否則可能對調焦架造成嚴重損壞。此時應當使用粗調旋鈕并往反方向操作。 2、如何將探針連接至待測點 (1) 顯微鏡最小倍數(shù)物鏡下找到待測點(或附近的位置),使待測點成像清晰。 (2) 確認定位器XYZ三軸均中間行程位置(即各軸導軌端面螺絲對齊)。Z軸也可略向上錯開3mm左右。 (3) 安裝并調節(jié)好探針的高度,側向平視,觀察探針與樣品臺(或樣品)間的距離(大概5mm,或略小于5mm)。 可通過調節(jié)探針臂或探針臂適配器的高度進行粗調定位。) (4) 移動定位器,將所有探針移動至顯微鏡光斑下。此時通過目鏡觀察可看到探針的虛影(探針成像未實體化)。 (5) 操作定位器XYZ旋鈕,將探針定位至待測點上方。此時,可調節(jié)Z軸盡量將探針靠近待測點,但不要將探針扎到待測點上(探針未實體化)。 (6) 向上撥動顯微鏡氣動升降開關,將顯微鏡抬升至最高后,切換至目標放大倍數(shù)。向下?lián)軇娱_關,將顯微鏡復原至原來位置。 [注意] 顯微鏡緩慢下降的過程中,若觀察到物鏡與周圍的配件干涉,應當立即向上拔動開關,使顯微鏡抬升。排除干涉后再把顯微鏡復位。 (7) 操作XYZ定位旋鈕,將探針準確定位至待測點上方。慢慢調節(jié)Z軸,緩降下探針。探針兩側虛影與針尖重疊時,探針即接觸樣品待測點。為確保良好的接觸,可略微過壓探針,觀察到探針略向前移動即停止。 版權所有。鍵德測試測量系統(tǒng)(東莞)有限公司。禁止復制、轉載。 |